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立式光學(xué)計
| 型 號： | |
| 廠商性質(zhì)： | 生產(chǎn)廠家 |
| 更新時間： | 2018-01-21 |
立式光學(xué)計本儀器是一種采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級精度柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。
立式光學(xué)計產(chǎn)品概述：
立式光學(xué)計用途
本儀器是一種采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級精度柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。
立式光學(xué)計技術(shù)參數(shù)
被測件zui大長度 180 mm
直接測量范圍 ≥±0.1 mm
分劃板分度值 0.001 mm
總放大倍數(shù) 1000×
測量力 (2±0.2) N
zui大不準確度 ±0.00025 mm
儀器體積 300×160×410 mm
儀器重量 30 kg
標準配件 可調(diào)帶筋園臺、可調(diào)園平臺、帶筋固定方臺
平面測帽、平面測帽、小球面測帽、刃形測帽